わずかな湿気や水分が原因で、内部回路にイオンマイグレーションを発生させるリスクのあるスマートフォン。高密度で精密な設計ゆえに、トラブルの進行も見えにくいのが実情です。
本記事では、その対策として有効な防水設計や材料選定の工夫について詳しく解説しています。
イオンマイグレーションとは、電子部品の回路内部で金属イオンが少しずつ移動してしまう現象を言います。
湿気などの水分が回路内に入りこんで電圧がかかると、金属が溶けてイオン化し、電極間をゆっくりと移動。長い時間がたつと、移動した金属が再び析出して細い金属の枝のような構造(デンドライト)となり、電極同士をつないでしまうこともあります。
この状態になると、本来つながってはいけない部分がショートし、その結果、誤作動や故障を引き起こします。
特にスマートフォンのような高密度な回路では、非常に狭い隙間で同様のリスクが発生するため、事前の詳細な試験や品質評価は欠かせません。
スマートフォンでは、小型化と高性能化を両立するため、回路が極めて細かく設計されています。電極どうしの距離がミリ以下ということも珍しくないため、イオンマイグレーションが進行しやすい環境であることは間違いありません。
また、スマホは日常的に湿気や汗、急な温度変化などにさらされることも多く、この特有の環境条件が金属イオンの移動を後押しします。
たとえば、ポケットに入れたまま激しい運動をしたり浴室で音楽を聴いたりすると、知らないうちに基板内部が高湿状態になることもあります。
スマホは構造上ある程度の防水性を備えていますが、それでも水分が完全に遮断されているわけではありません。こうした背景から、スマホはイオンマイグレーションに対してリスクを抱えやすい機器と言われています。
スマートフォンは、日常的に「水まわり」や「汗をかく状況」で使われることが少なくありません。たとえば、ポケットに入れたままの運動、手汗をかいたままの操作、浴室での使用などです。
こうした環境では、わずかな水分でも内部に入り込むリスクがあり、それらがイオンマイグレーションのきっかけになります。
スマホ内部は高密度回路の集合体。湿度の高い環境が続くと、金属イオンが電極間を移動しやすくなり、知らないうちに導通不良が進んでしまうこともあります。
スマートフォンの内部は、性能を高めるために非常に細かく回路が敷き詰められています。
特に、電極どうしの距離が非常に狭い「狭ピッチ実装」は、イオンマイグレーションが起きやすい代表的な構造。絶縁距離が短ければ、わずかな金属イオンの移動でもショートが発生しやすくなるため、結果として故障や不具合につながる可能性が高まります。
高密度化によって多機能を実現しているスマートフォン。その緻密さゆえに「湿気に弱い構造」を生んでしまっている、というジレンマ的な側面もあります。
スマートフォンは日常的に湿気や水気にさらされやすいため、それに耐えられる構造かどうかを評価する試験が欠かせません。
代表的な試験として、温度と湿度を繰り返し変化させる「温湿度サイクル試験」や、防水性能の指標である「IP規格に準じた耐水試験」があります。
これらの試験により、筐体や基板が湿気や水分にどれほど強いかを確認できるため、イオンマイグレーションの発生リスクを事前に把握することが可能となります。
イオンマイグレーションによる異常を見つける方法として、「リーク電流」の監視が効果的です。
リーク電流の監視とは、通電状態のまま回路を観察し、微弱な電流が漏れ出していないかをチェックする手法。金属イオンが移動し始めると、目に見えないレベルで電気の通り方に変化が起こるため、これらの微細な電流の変化を捉えることで、イオンマイグレーションのリスクに対する機器の潜在能力を見極めます。
イオンマイグレーションを防ぐには、まず「湿気を入りにくくすること」が基本です。スマートフォンでは、防水・防湿を意識した構造設計が取り入れられています。
たとえば、筐体のすき間をシーリング材でしっかりふさいだり、基板まわりを樹脂で充填して密閉性を高めたりするなどの手法。これにより、水分が内部に入りにくくなり、金属イオンの移動リスクも抑えやすくなります。
材料選びも、イオンマイグレーション対策では大切なポイントです。
たとえば、電極や端子には湿気や汗に強く、腐食しにくい金属素材を選択。また、部品表面への保護コーティングも有効な手法のひとつです。
絶縁性や防湿性のある膜で金属部分を覆い、イオンの移動を物理的に防ぐというアプローチが採られています。
対象物に合わせて選べる
マイグレーション試験受託会社
おすすめ2社を紹介
スマートフォンは、湿気・水濡れ・高密度回路などの要因により、イオンマイグレーションが発生しやすい環境にあります。信頼性を確保するには、設計段階での防湿対策や材料選定に加え、適切な試験機による検証も欠かせません。
以下では、実務に役立つ「マイグレーション試験機2選」をご紹介しています。試験機選定の参考として、ぜひご覧ください。
イオンマイグレーションは、スマートフォンのように高密度かつ多機能なデバイスにとって致命的な故障要因です。設計段階での対策はもちろん重要ですが、実機を用いた信頼性試験による検証も同じくらい重要です。
狭ピッチ実装の基板には数V~数十Vの繊細な電圧制御が可能な試験機が適している一方、防水性を重視した密閉構造では高温多湿を再現できる試験槽が不可欠です。
当サイトでは、低電圧試験に強みを持つIMVの試験機/平山製作所の試験槽(HAST装置)の組み合わせと、高温多湿再現に強みを持つESPECの試験機/試験槽(HAST装置)を比較し、それぞれの特長や活用シーンを整理しています。
印加電圧の違いによって求められる試験環境は大きく異なります。ここでは、対象物に合った試験を強みとする受託試験会社を、2社ピックアップしてご紹介します。

引用元:IMV公式サイト
https://www.landingpage-synergy.com/k4yeiagc/

| 印加電圧設定 | 1.0V~250V |
|---|---|
| 試験所数 | 日本国内7・海外3拠点 |

引用元:ESPEC公式サイト
https://www.espec.co.jp/products/measure-semicon/25kv/

| 印加電圧設定 | 2.5kV |
|---|---|
| 試験所数 | 国内6拠点 |