半導体チップなどの性能を評価するHAST試験(高度加速寿命試験)の装置には、一槽式・二槽式の2種類があります。二槽式は、蒸気を発生させる槽と試験槽が独立している点が特徴です。ここでは、二槽式のHAST試験装置と実際の製品例について紹介します。
二槽式装置は、蒸気を発生させる槽(ボイラー)と、試験槽(チャンバー)がそれぞれ独立した構造です。半導体チップなどの試験のうち、精密な温度・湿度制御が求められる場合に、二槽式が用いられることがあります。
ボイラーでは、試験に必要な温度の水蒸気を生成します。チャンバーに試料を投入し、内部のヒーターで指定温度まで温めて、ボイラーから送られてくる水蒸気と併せる仕組みです。
2種類の制御方式(飽和・不飽和)と、3種類の排気モードを搭載したHAST試験装置です。二槽式のため精密な試験に適しており、3種類の運転モードでトータル1500ステップを登録できるプログラム運転モードを搭載。専用アプリによる外部からの遠隔操作にも対応しています。
二槽式構造を採用し、幅60.7cmというコンパクト設計が特徴的なHAST試験装置です。空焚きを防ぐ自動給水機能や、二重構造とインターロック機構を搭載した扉など、安全性にも配慮したモデルです。2種類の制御方式(飽和・不飽和)と2種類の排気モードをスイッチの切り替えで選択できます。
プログラム運転・定値運転の2モードに対応しているHAST試験装置です。カラー液晶ディスプレイやタッチパネルを採用しており、直感的で扱いやすい操作性を実現。また、耐圧性に優れた円筒形構造を採用することで、内部の無駄なスペースを減らし、試験に使用できる有効領域を広く確保しています。
HAST試験に使われる装置は、一槽式と二槽式の2種類です。両方の方式に対応した装置なら、試料や試験のタイプに合わせて方法を切り替えられます。
当サイトでは、マイグレーション試験を依頼できる会社、マイグレーション試験機の活用に関する事例を詳しく取り上げています。以下の関連記事もぜひご覧ください。
フィードバック機能で実際のサンプル電圧をリアルタイム補正し、設定値と実際の印加電圧のズレを最小化します。
絶縁抵抗10⁵〜10¹⁴Ωまでカバーし、微小なリーク電流も正確に検出して信頼性の高い評価を実現します。
100°C超+高圧環境を作れるHAST装置との連携で、過酷条件を再現し、通常の何分の一もの時間で評価が可能です。
PC1台で最大256chまで拡張可能で、複数サンプルの一括試験による効率化と比較評価が容易になります。
たとえば、通常1,000時間かかる耐久評価を500時間以下に短縮可能。開発スピードを加速させ、思わぬ故障も未然に防ぎます。
また平山製作所のHAST装置の高絶縁抵抗を測定するための対策(特殊カバーやノイズ 対策)が、IMVの試験機が持つ高精度な測定性能を最大限に活かし、マイグレーションによる微小なリーク電流も正確に検出できるようになります。
※下記図は一例です。

二槽式と一槽式の構造の違いを理解することで、試験環境を選定するための判断精度は格段に上がります。しかし、実際の評価においては「どの製品にどの装置が適しているか」「どの装置を使えば適切な試験条件を満たせるのか」といった機種選定の視点も重要になります。
当サイトのトップページでは、印加電圧の大きさや用途に応じてマイグレーション試験機を紹介。信頼性評価の設計段階で考慮すべき試験方式や機種の特徴、選定時のチェックポイントもわかりやすく整理しています。

引用元:IMV公式サイト
https://www.landingpage-synergy.com/k4yeiagc/

| 印加電圧設定 | 1.0V~250V |
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| 試験所数 | 日本国内7・海外3拠点 |