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イオンマイグレーション対策と航空機器の信頼性評価

航空機器は常に極端な温度差や湿度変化にさらされるため、電子回路の信頼性確保は極めて重要なポイントになります。信頼性確保のための重要な施策のひとつが、イオンマイグレーション対策。当記事では、具体的な対策法や評価方法について詳しく解説しています。

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航空機器におけるイオンマイグレーション
とは?信頼性への影響を解説

金属イオンが移動して短絡を起こす現象

イオンマイグレーションとは、水分や電圧が引き金となり、回路上の金属イオンが移動してしまう現象を言います。
金属が移動して電極間に蓄積されると、針状の結晶(デンドライト)として成長。これが原因となり、やがて製品がショートを引き起こすことがあります。外見では異常が分かりづらく、気づいたときには回路全体に影響が出ているケースも少なくありません。
微細化が進む近年の電子基板では、金属イオンのわずかな移動がトラブルの原因になりえます。製品劣化を抑えるうえで、イオンマイグレーション対策は欠かせません。

航空機は小さな誤作動も許されない領域

航空分野においては、機器の小さな異常や誤作動が、人命や機体全体にかかわる重大事故へと発展するおそれがあります。飛行制御システム、センサー、通信装置など、あらゆる電子回路が常に正しく動作することが求められます。
このような中、湿気や電圧によって発生するイオンマイグレーションは、航空機における目に見えない信頼性低下の大きな一因。材料選定や構造設計、実装精度、試験環境の最適化まで、多角的に対策を講じることが必要です。

航空環境でのイオンマイグレーション発生要因と課題

高度変化がもたらす結露と湿度管理の難しさ

航空機は地上と上空とで温度・気圧が大きく変化しますが、この急激な環境変化が原因となり、電子機器内部で結露が発生することもあります。
機体内部の温湿度を常に一定に保つことは難しく、目に見えない水分が回路内に残り、イオンマイグレーション発生のリスクへとつながります。航空機特有の環境条件そのものがイオンマイグレーションの要因となるため、設計段階から湿度対策を盛り込むことが欠かせません。

回路ショートや誤作動が引き起こすシステム障害

イオンマイグレーションが進行すれば、回路内部で意図しない電気の流れが発生し、ショートや誤作動を招くことがあります。センサーや制御装置に影響が及べば、飛行中の機体全体にトラブルが波及する可能性も否定できません。
航空電子機器は連携性が高く、1つの異常が複数のシステムに波及する構造となっているため、初期段階からの劣化予測や予防設計は極めて重要です。

航空電子機器のイオンマイグレーション試験と耐環境評価

温湿度や高度を再現した加速試験の事例

飛行中、航空機器に使われる電子部品は上空特有の極端な環境変化にさらされます。これを考慮した「加速環境試験」として、温湿度サイクル試験や高度試験が代表的です。
温湿度サイクル試験では短時間で温度と湿度を大きく変化させ、結露や水分吸着のリスクを可視化してイオンマイグレーションによる影響を精密にチェックします。高度試験では気圧を変化させ、減圧状態での絶縁破壊やイオン移動の影響を評価します。

航空電子機器に求められる湿度試験の規格

航空機器の信頼性評価では、国際規格「RTCA DO-160」が重視されます。
特にSection 6「Humidity」では、相対湿度90%以上の条件下での動作確認など、内部結露による誤作動や腐食・短絡のリスクを見極める試験が規定されています。これらは「安全に直結する信頼性評価」として非常に重要です。

航空分野でのイオンマイグレーション対策と材料技術

密閉構造とパッシベーションによる高信頼設計

外気や水分を内部に入れない構造づくりが基本です。密閉型コンポーネントやパッシベーション膜で電子部品の表面を保護し、水分や酸素との反応を抑えることで腐食や導通リスクを低減させます。
ただし、複雑化に伴うコスト増や熱対策とのバランスが課題となるため、信頼性・性能・コストの最適化が求められます。

吸湿を抑える材料選定とコーティング技術

樹脂や絶縁体については吸湿率の低い素材を選定し、防湿コーティングで空気中の湿気から回路を守ります。フッ素系薄膜など航空向け特殊コーティングも登場していますが、材料同士の相性や成膜精度によるリスク評価が欠かせません。

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まとめ

航空機器は過酷な環境下でも高い信頼性が求められるため、イオンマイグレーションのリスク対策は欠かせません。設計・材料の工夫や実環境を模した評価試験を実施し、安全性を確保しましょう。
以下では、対策検討に役立つマイグレーション試験機を2機種ご紹介しています。

マイグレーション試験機は印加電圧で選ぶ|
おすすめ2選と選定の考え方

航空機器の電子基板は、高温・高湿・低圧という過酷な条件下で稼働します。これらを再現する試験装置でイオンマイグレーションのリスクを評価することが、安全性向上の第一歩です。

狭ピッチ基板やセンサー系統には数V~数十Vの繊細な電圧制御が可能な試験機が適し、一方でパワーエレクトロニクス系の高電圧回路には数百V~数千V対応の試験機が不可欠です。

当サイトでは、低電圧試験に強みを持つIMVの試験機/平山製作所の試験槽(HAST装置)の組み合わせと、高電圧・極端環境再現に強みを持つESPECの試験機/試験槽(HAST装置)を比較し、それぞれの特長や活用シーンを整理しています。

印加電圧の大きさ別
マイグレーション試験機2選

対象物から選ぶ
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おすすめメーカー2選

印加電圧の違いによって求められる試験環境は大きく異なります。ここでは、対象物に合った試験を強みとする受託試験会社を、2社ピックアップしてご紹介します。

狭ピッチのプリント基板
絶縁フィルム・コーティング材
はんだ
めっき・フラックスの残渣
微細パターンのガラス
など
IMV
絶縁劣化評価試験器(IMV)

引用元:IMV公式サイト
https://www.landingpage-synergy.com/k4yeiagc/

絶縁劣化評価試験システム
IMV
引用元:IMV公式サイト
https://www.landingpage-synergy.com/k4yeiagc/
                           
印加電圧設定 1.0V~250V
試験所数 日本国内7・海外3拠点
誤差の影響が大きい低電圧でも、
正確な試験が可能
リアルタイムで測定物の電圧を検知・自動補正し、意図した通りの負荷を実現。そのため信頼性の高い試験結果を提供可能。
湿度環境を試験室外で生成し供給する方式を採用。外部環境の影響を受けにくく、設定湿度で安定した試験が可能。
EV/HV車向けパワーデバイス(IGBT)
車載用ECU
高電圧センサ基板
ワイヤハーネス
端子
など
ESPEC
ESPEC

引用元:ESPEC公式サイト
https://www.espec.co.jp/products/measure-semicon/25kv/

高電圧絶縁抵抗評価システム
ESPEC
引用元:ESPEC公式サイト
https://www.espec.co.jp/products/measure-semicon/25kv/
                           
印加電圧設定 2.5kV
試験所数 国内6拠点
高電圧のオーバーシュートを抑え、
安全に試験可能
高電圧試験での絶縁破壊や誤判定を防ぐ「ストレス電圧制御機能」により、オーバーシュートを抑え、滑らかな電圧立ち上げで信頼性の高い結果を実現。
扉の締め忘れや異常時の電圧印加を自動で中断するなど、安全機能を搭載。同一メーカー製だからこそ、試験機と連動した安全設計の相談も可能。
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