HAST試験と85℃85%RH試験の違いを比較

HAST試験と85℃85%RH試験のどちらも加速寿命試験ですが、どのように使い分けたら良いのでしょうか。ここでは、HAST試験と85℃85%RH試験の違いを解説します。

HAST試験とは？

HAST試験は、高温・高湿環境で圧力をかけ、評価対象の劣化を加速して故障リスクを評価する試験です。「High Accelerated Stress Test」の頭文字をとった略語で、日本語では高加速寿命試験と呼ばれています。

用途

HAST試験は、樹脂封止ICや半導体デバイスの高温・高湿下における耐久性評価、故障モードの検出などに用いられています。温度105℃以上と湿度75%RH以上の環境で評価対象に圧力をかけ、内部に水分が侵入する時間を短縮し、劣化を加速します。水分の侵入を早めることで、通常の使用では数年かかるような劣化を短期間で再現できるのが特徴です。

方法

HAST試験は、温度と湿度、圧力を調整する専用装置を用いて実施します。試験条件は対象物によって異なりますが、温度は110～130℃程度、湿度は85%RH程度、圧力は2気圧（約0.2MPa）程度に設定することが一般的です。試験条件に合わせて環境を整えたチャンバー内に、評価対象を均等に配置して試験を開始します。

試験時間も対象物により変化しますが、24～96時間程度が目安です。試験の対象物や目的によって、通電状態で試験を実施します。

85℃85%RH試験とは？

85℃85%RH試験は、温度85℃と湿度85%RHの環境に評価対象を置いて、故障のメカニズムを加速する試験です。ダブル85テストとも呼ばれます。

用途

短期間で、製品の信頼性を評価するために用いられています。温度85℃と湿度85%RHの条件下では、水分の侵入や金属の腐食、絶縁の劣化などが早く進行します。

評価対象となる製品例は、以下の通りです。

• 半導体
• プリント回路基板
• LEDモジュール
• ソーラーパネル
• 通信設備

実際の使用環境に近い条件で試験を実施し、起こり得る自然な劣化や故障を評価できる点が特徴です。

方法

85℃85%RH試験では、温度85℃と湿度85%RHの環境に制御できる専用装置を用います。チャンバー内に評価対象を配置します。空気の流れを妨げたり、積み重ねたりしないように配置する点がポイントです。電源を接続し、通電テストを行うこともあります。

試験時間の目安は、500～1,000時間程度です。

HAST試験と85℃85%RH試験の違い

加圧と試験時間

加圧の有無によって劣化の速度が変化するため、試験時間に違いがあります。HAST試験では、加圧によって水分が内部へ侵入しやすくなり、劣化の速度が速くなります。一方で、85℃85%RH試験では、大気圧下で試験を行い、長期間の耐湿性や信頼性を評価します。

それぞれの試験時間の目安は、次の通りです。

HAST試験は主として開発段階のスクリーニングに、85℃85%RH試験は主として使用環境に近い条件で評価したいケースに適しています。

HAST試験と85℃85%RH試験を正しく使い分けよう

高温・高湿環境下で評価対象に圧力をかけるHAST試験は、製品の耐久性や故障を短期間で調べたいときに用いられています。85℃85%RH試験は、高温・高湿環境下で劣化を促しながらも、実際の使用環境下における変化をシミュレーションする試験です。よく似た特徴を備えていますが、試験の目的や時間は異なります。違いを把握したうえで、正しく使い分けることが重要です。

当サイトでは、HAST試験に関する情報やマイグレーション試験機の活用事例などをまとめていますので、以下の記事もぜひご覧ください。

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引用元：IMV公式HP
（https://www.landingpage-synergy.com/k4yeiagc/）

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